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第三代
半导体测试家族
Third generation semiconductor testing family
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QT-6000 分立元件高速測試系統

QT-6000分立器件高速測試機,適用於測試中小功率二極體、三極管、MOS等產品,可拓展內寘電容(DC+CAP)、EAS、Vc、pA模塊,也可擴展外掛LCR(超高精度電容測試)、Scanbox等,應用於晶圓、FT量產或實驗室測試。



懸浮電源

四象限電路

高速測試

支援多種擴展

型號 QT-6000
產品優勢 • QT-6000分立器件高速測試機,具備測試精度高、測試速度快、穩定性好、可靠性高、抗干擾能力强等效能優點
• 採用四象限電路,可以很好的保護被測元件。
• 採用懸浮電源和全對稱結構。
• 高速測試滿足UPH56K以上的分選機。
主要特點 • 高速測試, UPH>40K
• 可一拖二實現100% FT+QA並行測試
• 先進的電容高速測試方案,實現CAP+DC同工位測試
• 內寘UIS測試方案,實現DC+UIS同工位測試
• LCR精准電容測試,最小測試電容值100fF
• 電壓/電流(可選):1200V/600V,30A/10A/3A




Testing standards检测标准
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